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申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日：2018-08-31
公开（公告）日：2023-09-05
公开（公告）号：CN108732489B
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：本发明的实施例提出一种测试方法、测试设备、测试载板及测试系统。该测试方法包括：通过测试设备的第一输入输出端口向测试载板的第一通道输出第一测试信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号；通过所述第一输入输出端口接收所述第一通道返回的第三反馈信号，其中所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第一反馈信号生成；根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。通过本发明提供的技术方案，可以提高测试设备同时测量的待测芯片的数量。
专利权项：1.一种测试方法，其特征在于，包括：通过测试设备的第一输入输出端口向测试载板的第一通道输出第一测试信号，以通过所述测试载板复用所述第一测试信号生成第二测试信号和第三测试信号；通过所述第一输入输出端口接收所述第一通道返回的第三反馈信号，其中所述第三反馈信号由第一反馈信号和第二反馈信号合并生成或者求平均获得，所述第一反馈信号由第一待测芯片响应于所述第二测试信号生成，所述第二反馈信号由第二待测芯片响应于所述第三测试信号生成；若所述第三反馈信号小于第一阈值或者大于第二阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第三反馈信号大于等于所述第一阈值且小于等于所述第二阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。
百度查询： 长鑫存储技术有限公司 测试方法、测试设备、测试载板及测试系统
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