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申请/专利权人:北京华峰测控技术股份有限公司
申请日:2021-04-30
公开(公告)日:2021-07-27
公开(公告)号:CN113176487A
专利技术分类:.单个半导体器件的测试(在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66;光伏器件的测试入H02S 50/10)[2020.01]
专利摘要:本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。测试电路包括电源、二极管、电感、第一开关、第二开关和测试端。二极管的阴极与电源的正极连接。电感包括第一端和第二端。电感的第一端与二极管的阳极连接。第一开关的一端与电源的正极连接。第一开关的另一端与电感的第二端连接。第二开关的一端与二极管的阳极连接。第二开关的另一端与电源的负极连接。测试端的一端与电感的第二端连接。测试端的另一端与电源的负极连接。测试端用于插接功率二极管。电感中的电流可以在电感、二极管、电源和功率二极管形成回路中快速释放。电感中的电流能够快速降低到零。因此测试电路可以快速启动第二次测试,大大提高测试效率。
专利权项:1.一种测试电路,其特征在于,包括:电源;二极管,所述二极管的阴极与所述电源的正极连接;电感,包括第一端和第二端,所述电感的第一端与所述二极管的阳极连接;第一开关,所述第一开关的一端与所述电源的正极连接,所述第一开关的另一端与所述电感的第二端连接;第二开关,所述第二开关的一端与所述二极管的阳极连接,所述第二开关的另一端与所述电源的负极连接;以及测试端,所述测试端的一端与所述电感的第二端连接,所述测试端的另一端与所述电源的负极连接,所述测试端用于插接功率二极管。
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