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申请/专利权人:上海航天精密机械研究所
申请日:2014-12-09
公开(公告)日:2015-05-06
公开(公告)号:CN204308685U
专利技术分类:
专利摘要:本实用新型提供了一种可调回转式校准器,包括刀柄、夹持刀杆、分度装置和差分装置;所述夹持刀杆设置在所述刀柄上;所述差分装置转动连接所述夹持刀杆;所述分度装置用于测量所述夹持刀杆和所述差分装置之间的角度。所述分度装置包括分度机构转轴和分度读数表盘;所述差分装置通过所述分度机构转轴转动连接所述夹持刀杆;所述分度读数表盘用于读出所述夹持刀杆和所述差分装置之间的角度。差分装置包括差分刻度装置、差分读数装置和双导轨;所述双导轨设置在所述差分刻度装置上。本实用新型提供的可调回转式校准器带有分度机构可以在0°~180°有效范围内对零件的几何中心进行校准,可调节范围广。
专利权项:一种可调回转式校准器,其特征在于,包括刀柄1、夹持刀杆2、分度装置17和差分装置;所述夹持刀杆2设置在所述刀柄1上;所述差分装置转动连接所述夹持刀杆2;所述分度装置17包括分度机构转轴4和分度读数表盘;所述差分装置通过所述分度机构转轴4转动连接所述夹持刀杆2;所述分度读数表盘用于读出所述夹持刀杆2和所述差分装置之间的角度;差分装置包括差分刻度装置16、差分读数装置12和双导轨15;所述双导轨15设置在所述差分刻度装置16上;所述差分读数装置12设置在所述双导轨15上且能够沿所述双导轨15移动;所述差分读数装置12上设有可调的游标。
百度查询: 上海航天精密机械研究所 可调回转式校准器
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