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申请/专利权人：上海合见工业软件集团有限公司;成都融见软件科技有限公司
摘要：本发明涉及芯片验证技术领域，特别是涉及一种FSM中状态变量的提取方法、电子设备及存储介质，其通过遍历每一个设计模块中所有的always过程块，获取当前always过程块的输出变量和下一个always过程块的输入变量之间的共同变量，将共同变量绑定不同支路类型中的时序逻辑过程块存入各支路类型映射表中，遍历所有支路，当不同支路类型之间有相同的时序逻辑过程块时，获取每个支路类型绑定的共同变量之间的交集，将交集提取为状态变量。该方法在提取时不需要建立有向图，能够大幅度提高提取状态变量的效率。
主权项：1.一种FSM中状态变量的提取方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：P320，当遍历的第i个当前always过程块preproi和遍历的第j个下一个always过程块nextproj为设计模块中的不同的always过程块时，提取不同支路类型；其中，提取不同支路类型的步骤包括：P321，若preproi和nextproj均为时序逻辑过程块，则遍历设计模块中的第j+1个下一个always过程块nextproj+1；P322，否则，获取preproi的输出变量和nextproj的输入变量之间的共同变量InterVarij；P323，若InterVarij为空，则遍历第j+1个下一个always过程块nextproj+1；否则，按照preproi和nextproj的过程块类型获取支路类型，将InterVarij存入相应支路类型的映射表中；P330，遍历所有支路，当不同支路类型之间有相同的时序逻辑过程块时，获取每个支路类型绑定的共同变量之间的交集，将交集提取为状态变量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海合见工业软件集团有限公司 成都融见软件科技有限公司 一种FSM中状态变量的提取方法、电子设备及存储介质
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