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申请/专利权人：北京航空航天大学

摘要：本发明涉及贮存电子产品的可靠性建模技术领域，具体涉及到一种基于确信可靠性的贮存电子产品可靠性分析方法，其包括:S1、获取并处理贮存电子产品的基本数据；S2、基于层次分析法构建贮存电子产品的性能方程，并进行求解；S3、根据贮存电子产品的结构损伤、极限破坏和性能退化，构建可靠性分析模型；S4、基于蒙特卡罗模拟的多维可靠性评估组合算法完成贮存电子产品全寿命周期可靠性分析。本发明采用基于层次分析法的系统建模方法对电子产品进行精确物理功能建模，在此基础上，阐明了产品结构、极限和性能可靠性三种性能的关联及内涵，建立贮存电子产品确信可靠性模型，能够准确地评估贮存电子产品的可靠性，为产品的设计和优化提供了重要指导。

主权项：1.一种基于确信可靠性的贮存电子产品可靠性分析方法，其特征在于，其包括：S1：获取并处理贮存电子产品的基本数据；通过贮存电子产品的功能、性能裕量分析以及性能参数退化分析完成贮存电子产品的基本数据收集与处理；S2：基于层次分析法构建贮存电子产品的性能方程，并进行求解；S21：对贮存电子产品开展分层分析工作，从高层次逐步向低层次展开系统分层分析；S22：基于层次分析法进行贮存电子产品的性能建模，从低层向高层逐层进行改进键合图建模；S221：在贮存电子产品的部件层对基本部件、开关部件、逻辑部件进行键合图建模，得到部件层键合图模型；S222：在贮存电子产品的子系统层进行无因果改进键合图建模的建立和因果关系分配，得到子系统层键合图模型；S223：在贮存电子产品的系统层，根据步骤S221中的部件层键合图模型和步骤S222中的子系统层键合图模型，基于子电路模型以及键合图理论建立系统层的改进键合图模型；然后根据改进键合图模型的因果路径生成时间序列全局分析冗余关系为：glθ,λ,u,tl＝1,2,...,m；其中，gl为时间序列全局分析冗余关系；θ＝[θ1,θ2,…,θn]T为时间序列全局分析冗余关系中的n个部件集合；n为时间序列全局分析冗余关系的部件数；λ＝[λ1,λ2,…λq]T为q个控结的开关模式集合；q为开关模式数；u＝[u1,u2,…ur]T为时间序列全局分析冗余关系的r个输入；r为时间序列全局分析冗余关系数；t是时间序列参数；l为时间序列全局分析冗余关系集和；m为时间序列全局分析冗余关系个数；S23：根据时间序列全局分析冗余关系构建贮存电子产品的性能方程，使用全局解析法求解算法计算贮存电子产品的性能方程；所述贮存电子产品的性能方程为： 其中，为在x2条件下对应的导通电压性能方程输出；为在x2条件下对应的导通电流性能方程输出；x1为第1个功率键的电压；i1为第1个功率键的电流；x2为第2个功率键的电压；gjx2为时间序列全局分析电压冗余关系；hjx2为时间序列全局分析电流冗余关系；j为贮存电子产品结构编号；S3：根据贮存电子产品的结构损伤、极限破坏和性能退化，构建可靠性分析模型；S31：明确贮存电子产品生命周期中经历的结构损伤、极限破坏和性能退化三方面潜在的故障模式以及故障机理；进行退化建模及不确定性量化，从结构损伤、极限破坏和性能退化三方面分别进行退化建模以及不确定性量化分析；S32：根据贮存电子产品的确信可靠性构建可靠性分析模型；根据贮存电子产品的时序特点，对结构可靠性、极限可靠性和性能可靠性进行确定，并进一步考虑耦合关系，进行多维可靠性评估，获得结构可靠性分析模型Rs、极限可靠性分析模型Re和性能可靠性分析模型Rp；S4：基于蒙特卡罗模拟的多维可靠性评估组合算法完成贮存电子产品全寿命周期可靠性分析；获取步骤S3中得到的结构可靠性分析模型Rs、极限可靠性分析模型Re和性能可靠性分析模型Rp，使用蒙特卡罗模拟的多维可靠性评估组合算法计算贮存电子产品全寿命周期可靠性，计算结果为： 其中，为贮存电子产品全寿命周期可靠性；sum_t为全寿命周期无故障计数器；Nnum为蒙特卡洛模拟次数；Tj为贮存电子产品系统响应过程中的退化时刻。

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