买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:安徽中科新源半导体科技有限公司
摘要:本发明公开了一种对半导体芯片温控系统工况的检测方法,包括如下步骤:S1:在温控系统中设置电流检测模块,用于实时监测芯片工作过程中的电流数值的变化;S2:电流检测模块通过记录芯片工作时电流数值的变化,并建立电流的异常门限值;S3:当芯片正常工作时,电流数值处于电流的安全门限值内;S4:当芯片温度失控时,电流的数值将位于异常门限值;S5:当电流的数值将位于异常门限值,并结合时间门限,通过判断并确定芯片温度是否失控。本发明具有精确度高、安装简单和成本低廉的特点,对保护半导体芯片温度具有重要意义,具有广泛的应用前景。
主权项:1.一种对半导体芯片温控系统工况的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:在温控系统中设置电流检测模块,用于实时监测芯片工作过程中的电流数值的变化。S2:电流检测模块通过记录芯片工作时电流数值的变化,并建立电流的异常门限值。S3:当芯片正常工作时,电流数值处于电流的安全门限值内。S4:当芯片温度失控时,电流的数值将位于异常门限值。S5:当电流的数值将位于异常门限值,并结合时间门限,通过判断并确定芯片温度是否失控。S6:如果判断芯片温度失控,立即触发温控模块进行相应的控制行动,触发告警触发模块、关闭TEC的供电电源。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 安徽中科新源半导体科技有限公司 一种对半导体芯片温控系统工况的检测方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。