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申请/专利权人：东莞市沃野包装材料有限公司
摘要：本发明涉及图像数据处理技术领域，具体涉及一种水转印膜纸表面瑕疵检测方法及系统，该方法包括：获取水转印膜纸图像，并将水转印膜纸图像变换到CIELab空间；计算各像素点的纸面色彩变化系数；以水转印膜纸图像中各像素点为中心构建方形窗口，根据各方形窗口中像素点的亮度计算圆形LBP算子的各亮度阈值；计算圆形LBP算子的各采样圆半径；构建水转印膜纸图像中各像素点的纸面褶皱特征值和褶皱凸起度；计算各种子点与像素点之间的褶皱凸起度距离、自适应相似性度量距离；得到各超像素块；根据各超像素块中像素点的褶皱凸起度实现水转印膜纸表面的瑕疵检测。本发明旨在提高水转印膜纸表面瑕疵检测的准确性。
主权项：1.一种水转印膜纸表面瑕疵检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取水转印膜纸图像，并将水转印膜纸图像变换到CIELab颜色空间；根据水转印膜纸图像中各像素点和邻域像素点在CIELab颜色空间上的各分量，计算各像素点的纸面色彩变化系数；将各像素点在CIELab颜色空间上的L分量作为各像素点的亮度，以水转印膜纸图像中各像素点为中心构建方形窗口，根据各方形窗口中像素点的亮度计算圆形LBP算子的各亮度阈值；根据各方形窗口的预设边长和方形窗口内所有像素点的纸面色彩变化系数，计算圆形LBP算子的各采样圆半径；根据各方形窗口内像素点的纸面色彩变化系数、圆形LBP算子的各亮度阈值和采样圆半径，构建水转印膜纸图像中各像素点的纸面褶皱特征值；根据各像素点的纸面褶皱特征值和各像素点与邻域像素点的亮度差异，构建各像素点的褶皱凸起度；获取SLIC算法的各种子点，根据各种子点与像素点的褶皱凸起度计算各种子点与像素点之间的褶皱凸起度距离；根据各种子点与像素点的褶皱凸起度、各种子点与像素点之间的褶皱凸起度距离以及SLIC算法中的初始相似性度量距离，构建各种子点与像素点之间的自适应相似性度量距离，根据自适应相似性度量距离采用SLIC算法得到水转印膜纸图像中各超像素块；根据各超像素块中像素点的褶皱凸起度实现水转印膜纸表面的瑕疵检测。
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权利要求：
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