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申请/专利权人：矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
摘要：本申请提供了一种基于两点的角度校正方法和装置、电子设备及存储介质，属于半导体测试技术领域，通过获取被测单元的待旋转角度，获取旋转电机的当前旋转脉冲，根据当前旋转脉冲对预设映射关系表进行查询，得到旋转电机的当前旋转角度，预设映射关系表通过两个样本点得到，根据当前旋转角度和待旋转角度，得到旋转电机的目标旋转角度，根据目标旋转角度对预设映射关系表进行查询，得到旋转电机的目标旋转脉冲，根据目标旋转脉冲控制旋转电机进行旋转，以对被测单元进行角度校正，提高了旋转角度找正的准确性。
主权项：1.基于两点的角度校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取被测单元的待旋转角度；获取旋转电机的当前旋转脉冲；根据所述当前旋转脉冲对预设映射关系表进行查询，得到所述旋转电机的当前旋转角度；所述预设映射关系表通过两个样本点得到；根据所述当前旋转角度和所述待旋转角度，得到所述旋转电机的目标旋转角度；根据所述目标旋转角度对所述预设映射关系表进行查询，得到所述旋转电机的目标旋转脉冲；根据所述目标旋转脉冲控制所述旋转电机进行旋转，以对所述被测单元进行角度校正。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司 基于两点的角度校正方法和装置、电子设备及存储介质
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