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一种超小型DFN芯片检测设备 

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申请/专利权人:苏州桓旭半导体科技有限公司

摘要:本实用新型公开了一种超小型DFN芯片检测设备,本实用新型涉及DFN芯片检测设备技术领域。该超小型DFN芯片检测设备,包括吸笔,还包括:监测组件,所述监测组件设置于所述吸笔顶端,所述监测组件用于检测吸笔的下压力度;传动组件,所述传动组件设置于所述监测组件顶端,所述传动组件用于引导监测组件平稳的升降;驱动组件,所述驱动组件设置于所述传动组件一侧,并且所述驱动组件的输出端与所述传动组件的活动端相连,本实用新型可在芯片检测过程中,有效的防止有时会因机械机构磨损、卡壳或人为操作不当导致芯片与吸笔发生碰撞造成损伤,进而有效减小碰撞发生对检测芯片和设备造成的损伤。

主权项:1.一种超小型DFN芯片检测设备,包括吸笔1,其特征在于:还包括:监测组件2,所述监测组件2设置于所述吸笔1顶端,所述监测组件2用于检测吸笔1的下压力度;传动组件3,所述传动组件3设置于所述监测组件2顶端,所述传动组件3用于引导监测组件2平稳的升降;驱动组件4,所述驱动组件4设置于所述传动组件3一侧,并且所述驱动组件4的输出端与所述传动组件3的活动端相连,所述驱动组件4用于驱动传动组件3运行,以实现带动监测组件2同步升降;安装板5,所述安装板5设置于所述传动组件3顶端,并且所述安装板5底部表面一侧与所述驱动组件4顶部表面相连;以及触摸一体机6,所述触摸一体机6设置于所述传动组件3前方,并且所述触摸一体机6背面通过支架与所述安装板5底部表面相连。

全文数据:

权利要求:

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