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申请/专利权人：北京信息科技大学
摘要：本申请涉及片上单模光波导测量领域，公开了一种片上单模光波导有效折射率的测量方法，包括以下步骤：S1、提供一个测量系统；S2、输入光，并获取两个马赫曾德干涉结构的归一化光谱；S3、在相同波段内，记录光谱中多个连续波谷的波长值；S4、确定第一马赫曾德干涉结构第一个波谷的级次系数K；S5、利用级次系数K，构建第一和第二散点集，并计算对应的有效折射率；S6、对相同K取值时的第一和第二散点集进行合并，并进行曲线拟合；S7、通过比较不同K值时的曲线拟合度，确定最高拟合度对应的K值。本发明能够高效地确定片上单模波导有效折射率的实际值和干涉光谱中波谷的级次，解决了片上单模波导有效折射率难以准确测量的问题。
主权项：1.一种片上单模光波导有效折射率的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、提供一个测量系统，所述系统包括第一和第二马赫曾德干涉结构以及一个简单直波导；S2、通过第一和第二马赫曾德干涉结构输入光，并获取两个马赫曾德干涉结构的归一化光谱；S3、在两个马赫曾德干涉结构的归一化光谱相同波段内，记录第一和第二马赫曾德干涉结构归一化光谱中多个连续波谷的波长值；S4、确定第一马赫曾德干涉结构归一化光谱中第一个波谷的级次系数K；S5、利用级次系数K，构建第一和第二散点集，并计算对应的有效折射率；S6、对相同K取值时的第一和第二散点集进行合并，并进行曲线拟合；S7、通过比较不同K值时的曲线拟合度，确定最高拟合度对应的K值，以此确定片上单模光波导的有效折射率测试曲线。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京信息科技大学 一种片上单模光波导有效折射率的测量方法
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