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申请/专利权人:天成高科(深圳)有限公司
摘要:本发明涉及LED光电领域,尤其涉及一种LED地址烧写方法。该方法包括以下步骤:利用LED烧写装置与LED灯板进行光电数据连通,进入光连接通信状态,获取LED光连接数据;所述LED灯板包括多个LED灯珠;所述LED灯珠包括光信号接收端口;基于LED光连接数据对所述多个LED灯珠进行异常检测,当检测到异常灯珠,生成预警信号;基于预警信号对异常灯珠进行损坏更换,并获取更换后的LED灯珠数据;对更换后的LED灯珠数据进行灯珠排布分析,以得到LED灯珠排布数据;基于LED灯珠排布数据进行地址烧写路径预设,以得到全局预设烧写路径;基于全局预设烧写路径对LED灯板进行地址烧写处理,以得到LED烧写地址数据。本发明实现了高效的LED地址烧写。
主权项:1.一种LED地址烧写方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:利用LED烧写装置与LED灯板进行光电数据连通,进入光连接通信状态,获取LED光连接数据;所述LED灯板包括多个LED灯珠;所述LED灯珠包括光信号接收端口;步骤S2:基于LED光连接数据对所述多个LED灯珠进行异常检测,当检测到异常灯珠,生成预警信号;基于预警信号对异常灯珠进行损坏更换,并获取更换后的LED灯珠数据;步骤S2的具体步骤为:步骤S21:对LED光连接数据进行灯珠间连通分析,以得到灯珠连接通道数据;所述灯珠间连通分析具体为:通过分析LED灯珠之间的光连接数据,确定灯珠之间的连通路径和关系,帮助确定灯珠之间的连接通道和拓扑结构,在连通分析的基础上,得到灯珠连接通道数据,描述LED灯珠之间的连接通道、连接关系和拓扑结构;步骤S22:基于灯珠连接通道数据利用LED烧写装置对所述多个LED灯珠进行异常检测,当检测到异常灯珠,生成预警信号;步骤S23:基于预警信号对异常灯珠进行位置定位,以标记异常灯珠位置数据;步骤S24:基于异常灯珠位置数据进行损坏更换,并获取更换后的LED灯珠数据;步骤S3:对更换后的LED灯珠数据进行灯珠排布分析,以得到LED灯珠排布数据;基于LED灯珠排布数据进行地址烧写路径预设,以得到全局预设烧写路径;步骤S3中所述地址烧写路径预设具体为:对LED灯珠排布数据进行排布结构特征分析,以生成排布结构特征数据;基于排布结构特征数据对LED灯珠进行区域划分,以得到LED灯珠区域分组数据;对LED灯珠区域分组数据进行区域密度计算,以得到区域密度数据;基于区域密度数据得到区域定址难易度;通过区域定址难易度对LED灯珠区域分组数据进行路径点循迹覆盖处理,以得到烧写路径切入点序列;基于烧写路径切入点序列进行路径平滑优化,以得到全局预设烧写路径;步骤S4:基于全局预设烧写路径对LED灯板进行地址烧写处理,以得到LED烧写地址数据;步骤S5:基于LED烧写地址数据对LED灯板进行烧写地址检测,当烧写检测异常,生成异常预警信号;基于异常预警信号对LED灯板进行地址重烧写,以得到LED重烧写地址数据;步骤S6:当烧写检测无异常,对LED烧写地址数据及LED重烧写地址数据进行地址信息存储,以得到固定地址存储数据,完成在线地址写入作业。
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百度查询: 天成高科(深圳)有限公司 一种LED地址烧写方法
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