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申请/专利权人：中国科学院国家空间科学中心
摘要：本发明涉及天线位置的测量技术，特别涉及一种基于RTK技术定位测量综合孔径阵列天线结构中心的方法及系统。方法包括：遍历待测综合孔径阵列天线的每个振子天线，分别进行以下步骤：1基于RTK技术测量得到对应的该振子天线所有可测的地脚螺栓位置，得到测量点原始坐标；2对于每个振子天线，以任一测量点为原点，计算其他测量点的相对值，确定圆心的初始计算范围，重复若干轮次，结合天线结构安装底盘钢模板设计图的理想半径，基于计算的均方根和平均距离，进行偏差点的剔除；确定该阵子天线在RTK设定坐标系中的天线结构中心位置；3通过平移，对天线结构中心位置进行坐标转换，得到每个振子天线结构中心位置的站心坐标。
主权项：1.一种基于RTK技术定位测量综合孔径阵列天线结构中心的方法，包括：遍历待测综合孔径阵列天线的每个振子天线，分别进行以下步骤：步骤1基于RTK技术测量得到对应的该振子天线所有可测的地脚螺栓位置，得到测量点原始坐标；步骤2对于每个振子天线，以任一测量点为原点，计算其他测量点的相对值，确定圆心的初始计算范围，重复若干轮次，结合天线结构安装底盘钢模板设计图的理想半径，基于计算的均方根和平均距离，进行偏差点的剔除；确定该阵子天线在RTK设定坐标系中的天线结构中心位置；步骤3通过平移，对天线结构中心位置进行坐标转换，得到每个振子天线结构中心位置的站心坐标。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院国家空间科学中心 一种基于RTK技术定位测量综合孔径阵列天线结构中心的方法及系统
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