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申请/专利权人：深圳市卓然电子有限公司

摘要：一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机底座31，测试平台，测试托架25，垂直支架37，进步电机38，控制箱，进步电机导轨14。使用该装置后，解决操作员手摇升降的体力消耗，也解决了人工操作时快时慢，产量波动，效能损失的问题，极大的提高了设备利用率。

主权项：1.一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机底座31，测试平台，测试托架25，垂直支架37，步进电机38，控制箱，步进电机导轨14；所述垂直支架37垂直安装在测试机底座31上，所述控制箱安装在垂直支架37的外侧，所述步进电机38安装在垂直支架37的内侧，该步进电机38上具有步进电机导轨14，所述测试托架25通过导轨滑块40可沿着步进电机导轨14上下位移；所述测试平台位于测试托架25的下方，并安装在测试机底座31上；所述测试平台自上而下依次包括测试作业面47，抽真空组件46，水平旋转滑块45，水平旋转外框44，前后移动滑块43，左右移动滑块42和测试平台底座41；所述测试平台各个部件的结构如下：所述测试平台底座41为下平上凸型结构，所述测试平台底座41的下部通过螺丝固定在测试机底座31上；该测试机底座31上具有第一固定件51，该第一固定件51通过第一固定螺丝52固定在测试机底座31上；该第一固定件51夹持有第一调解螺杆50；所述左右移动滑块42为下凹上凸结构；该左右移动滑块42的下凹部分与测试平台底座41的上凸部分相契合；通过第二固定螺丝54将第二固定件53固定在左右移动滑块42的一个侧面上；所述第二固定件53与第一调解螺杆50处于同一高度；所述左右移动滑块42的另一个侧面通过第三固定螺丝58固定连接第三固定件57，该第三固定件57夹持有第二调节螺杆56；所述前后移动滑块43为下凹上平结构；该前后移动滑块43的下凹部分与左右移动滑块42的上凸部分相契合；所述前后移动滑块43的侧面通过第四固定螺丝60固定第四固件59，所述第四固件59与第二调节螺杆56位于同于高度；所述水平旋转外框44为中空结构，通过螺丝与前后移动滑块43的上平部分连接；水平旋转外框44的侧面具有水平固定件65，该水平固定件65上具有旋转支点62，所述水平固定件65的两端具有第一水平旋转旋钮63和第二水平旋转旋钮64；所述水平旋转滑块45为上平下凸结构，该下凸结构与水平旋转外框44的中空部分相契合，所述旋转支点62透过水平固定件65与水平旋转滑块45连接；所述抽真空组件46通过真空管快速接头48与真空泵连接软管49连接；所述测试作业面47上具有真空吸气孔16和镶片17。

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