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一种异质材料键合剥离的方法 

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申请/专利权人:青禾晶元(天津)半导体材料有限公司;青禾晶元(晋城)半导体材料有限公司

摘要:本发明涉及一种异质材料键合剥离的方法,通过设置预热处理的步骤,同时控制预热处理的温度在合理范围内,可以去除第一材料表面的多余水分子,又可以使得第一材料表面的羟基保持活性状态,从而保证键合效果;另外,控制键合处理后预热材料与第二材料的温度差在合理范围内,可以降低热处理时键合界面处的热应力水平,减小键合结构体开裂或失效的风险。

主权项:1.一种异质材料键合剥离的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:(1)对第一材料的表面进行离子注入,在所述第一材料内的预设深度处形成弱化层;(2)将步骤(1)所述离子注入后的第一材料进行预热处理,得到预热材料;将所得预热材料的离子注入面与第二材料的表面进行键合处理,得到异质材料键合体;(3)步骤(2)所得异质材料键合体经过热处理后沿所述弱化层裂开,得到具有第一材料层与第二材料基体的键合结构体;步骤(2)所述预热处理的温度<90℃,所述键合处理后预热材料与第二材料的温度差>50℃;步骤(2)所述键合处理中预热材料的降温速度<1℃s,第二材料的升温速度<1℃s。

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权利要求:

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