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申请/专利权人：成都森未科技有限公司

摘要：本实用新型公开了一种IGBT动态测试电路，包括：直流电源VCC、电容装置C1、放电装置K1、上桥待测IGBTQ1、下桥待测IGBTQ2、脉冲发生器、直流电源、泄放电阻R1、第一电压探头、第一电流探头、第二电压探头、第二电流探头、电感、铜排、控制开关K2、控制开关K3、控制开关K4、控制开关K5和控制开关K6。本实用新型集成了双脉冲测试和短路测试，能在不更换电流探头和电压探头的情况下仅通过开关控制就可以完成IGBT上下桥的双脉冲测试，而且不用重新搭建电路，仅通过开关控制就可以实现双脉冲测试和动态测试间的切换，大大提高了测试效率。

主权项：1.一种IGBT动态测试电路，其特征在于，包括：直流电源VCC、电容装置C1、放电装置K1、上桥待测IGBTQ1、下桥待测IGBTQ2、脉冲发生器、直流电源、泄放电阻R1、第一电压探头、第一电流探头、第二电压探头、第二电流探头、电感、铜排、控制开关K2、控制开关K3、控制开关K4、控制开关K5和控制开关K6；所述直流电源VCC的正极和所述上桥待测IGBTQ1的集电极相连，所述直流电源VCC的负极和所述下桥待测IGBTQ2的发射极相连；所述电容装置C1的一端和所述上桥待测IGBTQ1的集电极相连，所述电容装置C1的另一端和所述下桥IGBTQ2的发射极相连；所述泄放电阻R1的一端和所述上桥待测IGBTQ1的集电极相连，所述泄放电阻R1的另一端和所述下桥待测IGBTQ2的发射极相连；所述放电装置K1的一端和所述上桥待测IGBTQ1的集电极相连，所述放电装置K1的另一端和所述下桥待测IGBTQ2的发射极相连；所述脉冲发生器接在所述待测IGBTQ1的栅极和发射极两端；所述直流电源接在所述待测IGBTQ2的栅极和发射极两端；所述第一电压探头并联在所述待测IGBTQ1的集电极和发射极两端，所述第一电流探头与所述待测IGBTQ1串联，所述第二电压探头并联在所述待测IGBTQ2的集电极和发射极两端，所述第二电流探头与所述待测IGBTQ2串联；所述电感并联在所述待测IGBTQ1的集电极和待测IGBTQ2的发射极两端；所述铜排并联在所述待测IGBTQ1的集电极和所述待测IGBTQ2的发射极两端；所述控制开关K2、控制开关K3、控制开关K4、控制开关K5、控制开关K6分别用来断开所述铜排和所述电感与电路的连接。

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