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申请/专利权人：深圳市赋研星辰科技有限公司

摘要：本申请涉及一种PCBA表面缺陷检测方法、系统。所述方法包括：获取标准电路板的各角度的标准结构图像，以及待测电路板的各所述角度的待测结构图像，并针对每个角度，将所述角度的标准结构图像、与所述角度的待测结构图像进行图像映射处理，得到所述角度的映射对比图；通过图像差异识别网络，识别所述映射对比图中的差异像素点，并对各所述差异像素点进行聚类处理，得到各差异图像；识别每个差异图像的图像差异类型，并筛选目标图像差异类型的目标差异图像、以及所述目标差异图像的各差异像素点的点位置信息，作为所述待测电路板的目标缺陷信息。采用本方法能够提升对PCBA表面缺陷检测的精准度。

主权项：1.一种PCBA表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取标准电路板的各角度的标准结构图像，以及待测电路板的各所述角度的待测结构图像；针对每个角度，将所述角度的标准结构图像、与所述角度的待测结构图像进行图像映射处理，得到所述角度的映射对比图；将所述映射对比图进行网格化处理，得到所述映射对比图的各子映射图像；通过图像差异识别网络，识别所述映射对比图中的差异像素点，并对各所述差异像素点进行聚类处理，得到各差异图像；识别所述标准电路板的各板结构、以及各所述板结构在所述标准结构图像中的位置范围，并采集每个板结构的各子结构信息的结构范围占比、以及各所述子结构信息的结构位置信息；基于各所述子结构信息的结构范围占比、以及各所述子结构信息的结构位置信息，在所述板结构的结构范围中，识别各所述子结构信息的子位置范围；识别每个子映射图像在所述标准结构图像中的图像位置范围，并基于每个图像位置范围所属的子位置范围，确定每个子映射图像对应的子结构信息；针对每个差异图像，识别所述差异图像对应的各目标子映射图像、并基于每个目标子映射图像对应的子结构信息，识别所述差异图像对应的目标子结构信息；在数据库中，查询所述目标子结构信息的表面缺陷类型，并基于所述目标子结构信息的表面缺陷类型，通过图像识别网络，识别所述差异图像的图像差异类型；响应于工作人员的数据上传操作，获取目标图像差异类型，并在各所述差异图像中，筛选目标图像差异类型的差异图像，作为目标差异图像；针对每个目标差异图像，基于所述目标差异图像在所述结构图像中的图像位置范围、以及所述目标差异图像中的各差异像素点的点标识信息，识别每个差异像素点的点位置信息；将各所述目标差异图像的图像差异类型、以及各所述目标差异图像的各差异像素点的点位置信息，作为所述待测电路板的目标缺陷信息。

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