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RFID标签天线料带走线偏移检测方法 

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申请/专利权人:英内物联网科技启东有限公司

摘要:本发明公开了一种RFID标签天线料带走线偏移检测方法,包括以下步骤,S1、在料带上选取固定直线作为识别特征线;S2、利用激光发射单元发出激光线对准识别特征线,在料带上形成激光校准点;S3、利用图像采集单元实时采集料带走线时的识别特征线和激光校准点的图像信息;S4、判断识别特征线与激光校准点之间的偏差是否超过最大偏移参数,如果是,则执行步骤S5;如果否,则重新执行步骤S3;S5、当识别特征线与激光校准点之间的偏差超过最大偏移参数后开始计时,判断计时时间是否超过设定的时间参数T1。本发明通过实时监控和追踪产品的识别特征线,避免了因料带偏移而导致的质量问题,保证了产品的精度和一致性。

主权项:1.一种RFID标签天线料带走线偏移检测方法,其特征在于:包括以下步骤;S1、设定识别特征线在料带上选取固定直线作为识别特征线;S2、发射激光校准点利用激光发射单元发出激光线对准识别特征线,形成激光校准点;S3、图像采集利用图像采集单元实时采集料带走线时的识别特征线和激光校准点的图像信息;S4、初步判定计算识别特征线和激光校准点之间的偏差,判断识别特征线与激光校准点之间的偏差是否超过最大偏移参数,如果是,则执行步骤S5;如果否,则重新执行步骤S3;S5、最终判定当识别特征线与激光校准点之间的偏差超过最大偏移参数后开始计时,判断计时时间是否超过设定的时间参数T1,如果是,则触发报警信号,报警装置报警;如果否,则重新执行步骤S3。

全文数据:

权利要求:

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