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申请/专利权人：国仪量子技术(合肥)股份有限公司
申请日：2024-04-30
公开（公告）日：2024-08-02
公开（公告）号：CN118425848A
专利技术分类：..测量梯度〔3〕
专利摘要：本公开是关于一种磁场成像系统及磁场成像方法。该磁场成像系统包括振动装置，用于承载待测样品，以预定频率带动待测样品振动，在与样品纳米位移台表面平行的水平面内振动；利用扫描NV探针，结合原子力显微镜技术对待测样品进行扫描；物镜等共聚焦光路系统，用于接收荧光信号，及通过荧光信号进行磁场梯度成像。由于待测样品的振动是由振动装置带动，且振动装置的振动频率可根据需要自主控制，这使得待测样品的振动频率自主可控，因此对NV的相干性质以及外加磁场大小没有特定限制，同时此方法也会进一步提升测磁灵敏度。
专利权项：1.一种磁场成像系统，其特征在于，包括：振动装置，位于样品纳米位移台上，用于承载待测样品，以预定频率带动待测样品振动，在与所述样品纳米位移台表面平行的水平面内振动；扫描NV探针，位于所述待测样品上方，用于对所述待测样品进行扫描，及获取所述待测样品产生的梯度磁场，并基于所述梯度磁场输出荧光信号；物镜，朝向所述扫描NV探针，用于收集NV荧光信号；共聚焦光路模组，用于将所述NV荧光信号转化为磁场梯度信息，以进行磁场梯度成像。
百度查询： 国仪量子技术(合肥)股份有限公司 磁场成像系统及磁场成像方法
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