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申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所

摘要：本发明提供了一种长波红外多普勒差分干涉仪冷光学系统，解决现有干涉仪在非低温下工作时，光学系统的背景热辐射产生噪声影响成像效果的问题。该系统包括光学系统、低温真空杜瓦系统、对置式斯特林制冷系统、金属波纹管及探测系统；低温真空杜瓦系统包括真空杜瓦及设在真空杜瓦内的防辐射屏罩、支撑板、导热板及多个绝热支撑柱；防辐射屏罩和光学系统均设在导热板上；对置式斯特林制冷系统的冷指穿过真空杜瓦、防辐射屏罩与导热板连接；金属波纹管一端固定在真空杜瓦上，另一端连有连接盘；探测系统包括固定在真空杜瓦外壁上探测器安装支架和通过二维精密调整台设在探测器安装支架上的探测器，且探测器的冷屏连接于连接盘的中心孔处。

主权项：1.一种长波红外多普勒差分干涉仪冷光学系统，包括光学系统，所述光学系统包括沿光路依次设置的前置光学组件2、干涉仪光学组件1和后置成像光学组件3，其特征在于：还包括低温真空杜瓦系统23、对置式斯特林制冷系统10、金属波纹管13及探测系统24；所述低温真空杜瓦系统23包括箱式结构的真空杜瓦8及设置在真空杜瓦8内的支撑组件和防辐射屏罩4；所述支撑组件包括支撑板6、导热板5及多个绝热支撑柱7；所述绝热支撑柱7的下部与真空杜瓦8的底面连接，上部与支撑板6连接；所述导热板5设置在支撑板6上；所述防辐射屏罩4和光学系统均设置在导热板5之上，且光学系统位于防辐射屏罩4内；所述防辐射屏罩4的外表面进行抛光处理，内表面进行黑色阳极化处理；所述防辐射屏罩4和真空杜瓦8与前置光学组件2相对的位置均设有光学入口；所述防辐射屏罩4和真空杜瓦8与后置成像光学组件3相对的位置均设有光学出口；所述对置式斯特林制冷系统10的冷指12依次穿过真空杜瓦8、防辐射屏罩4与导热板5连接；所述金属波纹管13位于真空杜瓦8的光学出口和防辐射屏罩4的光学出口之间，金属波纹管13的一端固定在真空杜瓦8内壁上，另一端设置有连接盘131，连接盘131上设有中心孔132；所述探测系统24设置在真空杜瓦8外部且位于光学出口处，探测系统24包括探测器安装支架16和探测器14，探测器安装支架16固定在真空杜瓦8外壁上，探测器14通过二维精密调整台15设置在探测器安装支架16上，且探测器14的冷屏141与连接盘131密封连接于中心孔132处。

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