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一种检测PTFE中痕量金属离子的样品前处理方法及其应用 

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申请/专利权人:山东东岳高分子材料有限公司

摘要:本发明提供一种检测PTFE中痕量金属离子的样品前处理方法及其应用。本发明通过将PTFE粉末制备成膜,使PTFE更容易浸入浓盐酸中;通过对PTFE膜进行高温烧结,破坏PTFE端基,利于金属离子被盐酸浸泡析出;通过将高温状态的PTFE膜快速冷却降温,提高薄膜的比表面积,对金属离子的析出产生积极的效果。将待测样品利用ICP‑MS测定,测试结果准确,广泛适用于PTFE中痕量金属离子的测定。

主权项:1.一种检测PTFE中痕量金属离子的样品前处理方法,其特征在于,所述样品前处理方法包括下述步骤:A1:压制:将PTFE树脂置于模具中压制;A2:烧结:将脱模后的PTFE树脂置于烧结炉中进行烧结并保温;A3:降温:保温结束后,对样品进行冷却降温;A4:旋切:降温结束后,将样品旋切成膜;步骤A2中,所述树脂脱模后静置4h,再进行烧结处理,所述烧结升温速率为60-120℃h;所述烧结温度为360-380℃;所述保温时间为3-5h;步骤A3中,所述冷却降温的环境温度不超过0℃。

全文数据:

权利要求:

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