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申请/专利权人：上海中艺自动化系统有限公司
摘要：本发明属于芯片测试技术领域，具体涉及一种全自动IC测试分选机，包括：芯片转向定位结构、料盘箱结构、多吸嘴搬运结构、料盘周向通道结构、料盘堆叠结构、推料入腔结构、温度控制结构、上料测试结构和出料回温结构及其连接关系。本发明通过设置了芯片转向定位结构、料盘箱结构、多吸嘴搬运结构、料盘周向通道结构、料盘堆叠结构、推料入腔结构、温度控制结构、上料测试结构和出料回温结构，实现了全自动的IC测试，无需人工，整体结构进行IC流向的循环布局，增强了机器的可靠性、稳定性，减少卡机、停机和维修时间，减少了人工干预，增加产量；降低了芯片测试的成本，有利于提高芯片封测行业的竞争力。
主权项：1.一种全自动IC测试分选机，其特征在于，包括：芯片转向定位结构、料盘箱结构、多吸嘴搬运结构、料盘周向通道结构、料盘堆叠结构、推料入腔结构、温度控制结构、上料测试结构和出料回温结构；芯片转向定位结构，用于调节待测试IC的方向；多吸嘴搬运结构将调节好方向的待测试IC搬运至料盘箱结构的进料盘上；料盘箱结构，用于存放待测试IC和存放已测试IC；多吸嘴搬运结构将存放在进料盘上的待测试IC搬运至料盘周向通道结构的料盘上；料盘周向通道结构将装有待测试IC的料盘运输至料盘堆叠结构上进行堆叠处理；推料入腔结构将料盘堆叠结构上的堆叠料盘一起推至预热腔内；在预热腔内，上料测试结构将堆叠料盘进行一一上料至测试腔并进行测试；测试完后，装有已测试IC的料盘由出料回温结构运输出料并进行回温处理；多吸嘴搬运结构将回温后的已测试IC搬运至料盘箱结构的出料盘上。
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权利要求：
百度查询： 上海中艺自动化系统有限公司 一种全自动IC测试分选机
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