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申请/专利权人：苏州元脑智能科技有限公司
摘要：本申请公开了一种晶体管的测试方法、设备、计算机程序产品及存储介质，应用于测试技术领域，包括：通过调整施加至待测晶体管的栅极充电电流的大小，使得待测晶体管的开启时间长度符合设定的时长范围；在待测晶体管的开启时间长度符合设定的时长范围时，将当前的栅极充电电流作为本次测试所使用的目标电流；向待测晶体管施加设定的漏源电压和漏源电流，并且向待测晶体管的栅极施加目标电流，以使待测晶体管从关断状态切换为导通状态；判断待测晶体管是否损坏；如果否，则增大漏源电流，并重新测试；如果是，则将当前的漏源电流作为待测晶体管在当前的漏源电压情况下的最大通电电流。应用本申请的方案，可以有效地提高晶体管测试的效率和准确性。
主权项：1.一种晶体管的测试方法，其特征在于，包括：通过调整施加至待测晶体管的栅极充电电流的大小，使得所述待测晶体管的开启时间长度符合设定的时长范围；在所述待测晶体管的开启时间长度符合设定的时长范围时，将当前的所述栅极充电电流作为本次测试所使用的目标电流；向所述待测晶体管施加设定的漏源电压和漏源电流，并且向所述待测晶体管的栅极施加所述目标电流，以使所述待测晶体管从关断状态切换为导通状态；判断所述待测晶体管是否损坏；如果否，则增大所述漏源电流，并返回执行向所述待测晶体管施加设定的漏源电压和漏源电流，并且向所述待测晶体管的栅极施加所述目标电流的操作；如果是，则将当前的所述漏源电流作为所述待测晶体管在当前的所述漏源电压情况下的最大通电电流。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州元脑智能科技有限公司 晶体管的测试方法、设备、计算机程序产品及存储介质
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