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从离子辐照样品纳米压入数据提取辐照硬化参数的方法 

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申请/专利权人:中国原子能科学研究院

摘要:本发明公开了一种从离子辐照样品纳米压入数据提取辐照硬化参数的方法,涉及固体材料测试技术领域,该方法包括S1、对离子辐照前后的样品进行纳米压入测试,获得不同深度的纳米压入硬度测试值;S2、根据未辐照样品纳米压入硬度计算材料的本体硬度和特征长度参数;S3、模拟离子辐照损伤,获得辐照损伤剂量深度分布;S4、利用离子辐照样品纳米压入模型和全局优化算法对辐照硬化模型参数进行拟合;S5、根据辐照硬化模型参数计算材料在不同辐照剂量下的辐照硬化值,结合离子辐照损伤剂量深度分布计算离子辐照样品不同深度的辐照硬化值。使用本发明提供的方法能够提取材料辐照硬化参数,以及材料在不同辐照剂量下的辐照硬化值和不同压入深度的本体硬度。

主权项:1.一种从离子辐照样品纳米压入数据提取辐照硬化参数的方法,包括以下步骤:S1、对离子辐照前后的样品进行纳米压入测试,应用连续刚度或连续多循环模式获得不同深度的纳米压入硬度测试值;S2、根据未辐照样品纳米压入硬度计算得到材料的本体硬度和特征长度参数;S3、对离子辐照损伤进行模拟,获得辐照损伤剂量深度分布,并将辐照损伤剂量深度分布拟合成解析公式;S4、利用离子辐照样品纳米压入模型和全局优化算法对辐照硬化模型参数进行拟合,拟合目标函数为带权重的理论和实验硬度偏差的平方和;S5、根据S4中获得的辐照硬化模型参数,计算材料在不同辐照剂量下的辐照硬化值,结合离子辐照损伤剂量深度分布计算离子辐照样品不同深度的辐照硬化值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国原子能科学研究院 从离子辐照样品纳米压入数据提取辐照硬化参数的方法

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