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申请/专利权人：电子科技大学
摘要：本发明属于光学散射介质成像技术领域，具体涉及一种基于光场贡献率的传输矩阵快速测量方法。本发明利用单次照明光场，并引入光场贡献率的概念。通过采用高斯小孔对单次照明光场进行重采样，本方法能够快速获取传输矩阵。实验结果表明，该方法能够有效地分离重叠的输出光场，并在散射介质中实现了快速、高分辨率的成像。因此，本发明为散射介质成像技术的发展提供了一种有效的解决方案。
主权项：1.一种基于光场贡献率的传输矩阵快速测量方法，其特征在于，包括：测量到光场后，通过高斯小孔对测量到的光场进行重采样，具体为，定义光场贡献率用于量化光场在散射介质中不同传播距离的影响，使用高斯孔径对光场贡献率进行评估： 其中，Gi,j是高斯孔径的方程，i,j是高斯孔径的中心点，σ是确定高斯孔径大小的标准偏差，x∈[1,n],y∈[1,n],i∈[1,n],j∈[1,n]，n表示光场的像素大小；定义f表示重叠的光场，通过将G和f进行哈达玛积运算，得到采样后的光场，记为fsi,j：fsi,j＝Gi,j⊙f通过重建采样后的光场得到散射介质的传输矩阵。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 电子科技大学 一种基于光场贡献率的传输矩阵快速测量方法
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