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申请/专利权人：芯梦达半导体科技(济南)有限公司
摘要：本申请涉及一种存储器测试装置和存储器测试方法，该存储器测试装置包括：测试仪，存储有用于对被测器件进行测试的测试向量，并被配置为将测试仪中存储的测试向量的信号施加给被测器件，以对被测器件进行测试；测试板，被配置为将被测器件与测试仪电连接，且被测器件在测试时装载在测试板上；测试室，测试板和被测器件在测试时位于测试室内，且测试室内的温度是可控制的，从而能够实现在高度灵活、低成本的测试系统上在更真实的应用程序测试环境中在多个不同温度下对存储器进行所有测试，避免了使用昂贵的测试设备和测试工具，大大降低了存储器的测试成本，并有利于提高测试质量。
主权项：1.一种存储器测试装置，其特征在于，包括：测试仪，存储有用于对被测器件进行测试的测试向量，并被配置为将所述测试仪中存储的所述测试向量的信号施加给所述被测器件，以对所述被测器件进行测试；测试板，被配置为将所述被测器件与所述测试仪电连接，且所述被测器件在测试时装载在所述测试板上；测试室，所述测试板和所述被测器件在测试时位于所述测试室内，且所述测试室内的温度是可控制的。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 芯梦达半导体科技(济南)有限公司 存储器测试装置和存储器测试方法
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