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基于LIN总线的波特率检测方法及装置 

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申请/专利权人:苏州纳芯微电子股份有限公司

摘要:本发明揭示了一种基于LIN总线的波特率检测方法及装置,基于LIN总线的波特率检测方法包括获取LIN数据帧;将所述LIN数据帧内同步间隔场的电平和同步场内的每个电平分别存储于预设个数的移位缓存器中;控制每个电平按预设方向持续位移;基于每次的位移获取存储于所述移位缓存器中的电平长度并计算波特率;在所述波特率的大小和表征所述同步间隔场的移位缓存器的电平长度满足预设条件时,更新波特率。本发明可以实时判断波特率的大小和表征所述同步间隔场的移位缓存器的电平长度是否满足预设条件,从而可以提高自动波特率检测的实时性,减少因为频率切换而导致的数据帧丢失。

主权项:1.一种基于LIN总线的波特率检测方法,其特征在于,包括:获取LIN数据帧;接收所述LIN数据帧的同步间隔场和同步场的脉冲;将所述LIN数据帧内同步间隔场的电平和同步场内的每个电平分别存储于预设个数的移位缓存器中,对每个移位缓存器进行特性标记,标记的移位缓存器包括用于表征同步场的第一类缓存器和用于表征所述同步间隔场的第二类缓存器;控制每个电平按预设方向持续位移以使每一个LIN数据帧的同步间隔场和同步场的电平依次存储在每个移位缓存器中;基于每次的位移获取存储于所述移位缓存器中的电平长度并计算波特率;在所述波特率的大小满足第一预设条件和表征所述同步间隔场的移位缓存器的电平长度满足第二预设条件时,更新所述波特率至波特率寄存器中;其中所述波特率的大小的第一预设条件为:第一预设值<波特率<第二预设值;表征所述同步间隔场的移位缓存器的电平长度的第二预设条件为:第二类缓存器内电平的长度>第一类移位缓存器内电平长度的总和。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州纳芯微电子股份有限公司 基于LIN总线的波特率检测方法及装置

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