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一种获取物体表面深度信息的装置和方法 

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申请/专利权人:圣邦微电子(北京)股份有限公司

摘要:本发明公开了一种获取物体表面深度信息的装置和方法。该方法包括:将相干光投射的被测物体表面,并根据被测物体表面的反射光和参考光得到第一条纹图像;基于第一条纹图像计算得到条纹宽度更大的第二条纹图像;以及根据第二条纹图像得到表征被测物体表面深度信息的三维点云数据。与传统的激光扫描法和飞行时间法相比,在保证测量精度的前提下成本更低,可广泛使用于三维面部识别和手势识别等领域。

主权项:1.一种获取物体表面深度信息的装置,包括光源发射系统、图像传感器以及图像处理系统,所述光源发射系统分别用于在第一模式下将相干光投射到被测物体表面和所述图像传感器,以及在第二模式下将相干光投射到所述被测物体表面,所述图像传感器用于在所述第一模式下采集所述被测物体表面的有干涉图像,并在所述第二模式下采集所述被测物体表面的无干涉图像,所述图像处理系统基于所述有干涉图像和所述无干涉图像之间的差异获得第一条纹图像,并获取所述第一条纹图像中干涉条纹的光强信息,将所述光强信息与沿干涉条纹相变方向变化的预设正弦波相乘以得到新的干涉条纹,从而得到第二条纹图像,所述第二条纹图像与所述第一条纹图像的条纹宽度不一致,以便于所述图像处理系统根据标定两点求距离的方法建立所述第二条纹图像与世界坐标系的比例关系,通过条纹图像的空间还原操作得到表征所述被测物体表面深度信息的三维点云数据。

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