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一种集成电路电源和地引脚连通性的测试方法 

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申请/专利权人:上海威固信息技术股份有限公司

摘要:本发明公开了一种集成电路电源和地引脚连通性的测试方法,搭建测试系统,将被测集成电路中某一个电源引脚和地引脚先后分批连接测试系统的电流电压测量模块,分别对电源引脚和地引脚引入测试系统后的电流值进行测试,依据测试结果判断连通性是否合格。本发明通过分步式区分对比法,就可以消除漏报被测集成电路部分电源脚或地脚与测试系统断路的隐患。

主权项:1.一种集成电路电源和地引脚连通性的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S100:搭建测试系统;将被测集成电路所有引脚连接测试系统,测试系统将被测集成电路的所有地引脚连接地,其余所有引脚悬空;步骤S200:将被测集成电路中某一个电源引脚连接测试系统的电流电压测量模块;测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电压V1,测试系统的电流电压测量模块判断通过端口A的电流I1是否大于阈值电流Ith1且小于阈值电流Ith2,如果I1大于Ith1且小于Ith2,则进入步骤S300,否则转入S700;步骤S300:对被测集成电路中下一个电源引脚重复执行步骤S200,直至完成所有电源引脚的测试;转入步骤S400;步骤S400:测试系统将被测集成电路的所有电源引脚连接地,将被测集成电路中某一个地引脚连接测试系统的电流电压测量模块,其余所有引脚悬空,测试系统的电流电压测量模块的端口A输出电压V2,测试系统的电流电压测量模块判断通过端口A的电流I2是否大于阈值电流Ith3且小于阈值电流Ith4,如果I2大于Ith3且小于Ith4则转步骤S500,否则转步骤S700;所述Ith3和Ith4通过摸底试验确定;步骤S500:对被测集成电路中下一个地引脚重复执行步骤S400,直至完成所有地引脚的测试;转入步骤S600;步骤S600:被测集成电路电源脚和地脚连通性测试合格;步骤S700:被测集成电路电源脚和地脚连通性测试不合格;所述V1大于0.1V且小于VDD;所述V2小于0.1V且大于VDD。

全文数据:

权利要求:

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