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申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要：本发明涉及一种成像系统杂散光系数确定方法，具体为一种杂散光系数仿真方法。解决当仿真系统中杂散光光源为有限个离散的点光源时，现有杂散光系数计算方法无法适用的问题，首先在仿真软件中，建立仿真模型；仿真模型包括光源、被测光学系统和像面；光源由位于同一平面内、具有不同法方向的多个栅格光源组成；其次，获得点源透过率矩阵；最后基于点源透过率矩阵获得杂散光系数。以现有理论公式为基础，利用仿真得到的到离散点组成的点源透过率矩阵，计算光学系统杂散光系数，在设计阶段成像系统不具备实际测试条件时，可利用此方法仿真光学系统视场外的杂散光系数。
主权项：1.一种杂散光系数仿真方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、在仿真软件中，建立仿真模型；所述仿真模型包括光源、被测光学系统和像面；所述光源用于模拟无穷远处的光源，由位于同一平面内、具有不同法方向的多个栅格光源组成；步骤2、获得点源透过率矩阵PSTθH；步骤2.1、开启光源，使得各个栅格光源入射到被测光学系统的入瞳处；步骤2.2、将各个栅格光源的视场角θ投影到x向和y向，得到视场角矩阵θH： 其中为位于第1行第1列栅格光源的视场角投影到x向和y向的角度，为位于第m行第n列栅格光源的视场角投影到x向和y向的角度，m和n均为大于3的整数；步骤2.3、仿真视场角矩阵θH下的点源透过率PST，得到点源透过率矩阵PSTθH；对点源透过率矩阵PSTθH进行插值平滑处理，得到平滑后的点源透过率矩阵PSTθH*；步骤3、基于下式获得杂散光系数V： 其中，PSTθH*为对点源透过率矩阵PSTθH插值平滑处理后的点源透过率矩阵，sinθH*为插值平滑后视场角矩阵θH*的正弦值，dθH*为插值平滑后的视场角间隔，dα*为插值平滑后被测光学系统入瞳处相邻两个栅格光源形成的圆弧对应的圆心角，τ为被测光学系统透过率，F为系统相对孔径的倒数。
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权利要求：
百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种杂散光系数仿真方法
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