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申请/专利权人：浙江振东光电科技有限公司
摘要：本发明涉及一种光开关通道衰减测试方法。它解决了现有技术中光开关衰减测试方法难以确定具体光通道的衰减值且难以进行针对性调节的问题。它包括S1、将测试光开关设置于光纤上；S2、在测试光开关两端分别设置若干分段式光功率采集装置；S3、利用分段式光功率采集装置对光信号进行分段式功率采集；S4、异常检测；S5、通过光示波器监测光信号波长；S6、通过光电控制单元调节激光输出信号，控制光信号经过测试光开关衰减后的信号质量。本发明的优点在于：测试时能够对各个光通道进行灵活调节，能够确定各个光通道对整个测试光开关衰减值的影响，从而获得该测试光开关的光信号衰减值下最佳光信号输出功率和波长。
主权项：1.一种光开关通道衰减测试方法，其特征在于，本方法包括以下步骤：S1、将测试光开关1设置于光纤上；S2、在测试光开关1两端分别设置若干分段式光功率采集装置2；S3、利用分段式光功率采集装置2对测试光开关1两端光纤的光信号进行分段式功率采集并上传至上位机3；S4、光信号异常检测；S5、通过光示波器4监测光源输出端以及经过测试光开关1的光信号波长；S6、通过光电控制单元5调节激光输出信号，控制光信号经过测试光开关1衰减后的信号质量。
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权利要求：
百度查询： 浙江振东光电科技有限公司 一种光开关通道衰减测试方法
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