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申请/专利权人：中国科学院近代物理研究所
摘要：本发明属于加速器中电路芯片检测技术领域，涉及一种基于核孔膜的数字电路芯片单粒子翻转甄别系统和方法，包括：聚合物膜放置在待测数字电路芯片前；束流发射模块，用于发射束流，束流对聚合物膜和待测数字电路芯片进行辐照，生成核孔膜；单粒子翻转检测模块，用于检测待测数字电路芯片是否发生单粒子翻转；核孔膜检测模块，用于在发生单粒子翻转时，检测核孔膜上孔洞的位置；数据处理模块，用于在发生单粒子翻转时，确定单粒子翻转的位置，并将其与核孔膜上孔洞的位置进行比较，以确定单粒子翻转是否为束流引起的单粒子翻转。其基于核孔膜对数字电路芯片单粒子翻转来源是否由入射重离子导致进行甄别，可以增加甄别结果的可靠性。
主权项：1.一种基于核孔膜的数字电路芯片单粒子翻转甄别系统，其特征在于，包括：核孔膜、束流发射模块、单粒子翻转检测模块、核孔膜检测模块和数据处理模块；所述核孔膜放置在待测数字电路芯片前；所述束流发射模块，用于发射束流，所述束流对所述核孔膜和待测数字电路芯片进行辐照；所述单粒子翻转检测模块，用于检测所述待测数字电路芯片是否发生单粒子翻转；所述核孔膜检测模块，用于在发生单粒子翻转时，检测所述核孔膜上孔洞的位置；所述数据处理模块，用于在发生单粒子翻转时，确定单粒子翻转的位置，并将其与所述核孔膜上孔洞的位置进行比较，以确定所述单粒子翻转是否为束流引起的单粒子翻转；所述单粒子翻转检测模块的检测方法为：在开始束流辐照前，对待测数字电路芯片进行数据写入，在束流辐照开始时，所述单粒子翻转检测模块不断对待测数字电路芯片进行读取，若读取数据与写入的数据不一致，则判断对应的存储位发生了单粒子翻转，并给出发生翻转错误的存储位逻辑地址、数据以及翻转发生的时间。
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