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申请/专利权人：中国科学技术大学
摘要：本发明提供了一种测量钙‑41同位素丰度的原子阱痕量分析系统。分光及调制单元将423nm激光产生单元产生的测量激光分为第一囚禁激光、第二囚禁激光和第三囚禁激光；453nm激光产生单元产生回泵激光。金属钙样品在原子炉内形成包括钙‑41原子和钙‑43原子的钙原子束；原子束挡板在打开状态的情况下，钙原子束进入磁光阱；磁光阱利用第一囚禁激光、第二囚禁激光和第三囚禁激光囚禁钙‑41原子和钙‑43原子，并使钙‑41原子和钙‑43原子发出荧光，利用回泵激光延长钙‑41原子和钙‑43原子的囚禁时间。通过对磁光阱中被囚禁的钙‑41原子和钙‑43原子发出的荧光进行探测，实现对钙‑41同位素丰度的测量。本发明还提供了一种测量钙‑41同位素丰度的原子阱痕量分析测量方法。
主权项：1.一种测量钙-41同位素丰度的原子阱痕量分析系统，包括：光学装置，包括：423nm激光产生单元，适用于产生测量激光；453nm激光产生单元，适用于产生回泵激光，所述回泵激光带有±100MHz边带频率；分光及调制单元，适用于根据所述测量激光得到第一囚禁激光、第二囚禁激光和第三囚禁激光；真空装置，包括：原子炉，所述原子炉内放置有金属钙样品，所述金属钙样品在所述原子炉内形成钙原子束，所述钙原子束包括钙-41原子和钙-43原子；磁光阱，适用于接收所述回泵激光和接收来自不同方向输入的所述第一囚禁激光、所述第二囚禁激光和所述第三囚禁激光，利用所述第一囚禁激光、所述第二囚禁激光和所述第三囚禁激光囚禁所述钙原子束中的钙-41原子和钙-43原子，使得所述钙-41原子和所述钙-43原子发出荧光，以及利用所述回泵激光延长所述钙原子束中的钙-41原子和钙-43原子的囚禁时间，其中，所述钙原子束沿直线自所述原子炉进入至所述磁光阱；原子束挡板，在打开状态和关闭状态之间切换，所述原子束挡板在打开状态的情况下，所述钙原子束进入所述磁光阱，所述原子束挡板在关闭状态的情况下，所述钙原子束无法进入所述磁光阱；其中，通过对磁光阱中被囚禁的所述钙-41原子和被囚禁的所述钙-43原子发出的荧光进行探测，实现对所述钙-41同位素丰度的测量。
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百度查询： 中国科学技术大学 测量钙-41同位素丰度的原子阱痕量分析系统及测量方法
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