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申请/专利权人：电子科技大学
摘要：本发明提供一种基于准光腔的面外介电常数测试装置及方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置创新性设置放样方式，将待测介质基板放置于准光腔内，使腔内电场垂直分布在介质基板上，从而实现了基于准光腔法对面外介电常数的测试；除此之外，还设计了样品夹具，使得能够简便地完成对待测介质基板的取样放样。
主权项：1.一种基于准光腔的面外介电常数测试装置，其特征在于，包括耦合环馈电单元、准光腔、第一底座和移动单元；所述第一底座包括相同的两个截面为“L”型座板，两个座板相对设置，准光腔横跨设置于两个座板同一高度的平面上；移动单元设置于准光腔腔内，且位于两个座板之间，移动单元上固定设置样品夹具，待测介质基板通过样品夹具固定；通过调整移动单元，使待测介质基板面外方向与准光腔腔内中心处的电场线方向保持一致，且待测介质基板中心与准光腔的中心轴线重合；准光腔的短路面的中心开设耦合孔，用于设置耦合环馈电单元；通过调节耦合环馈电单元中耦合环进入耦合孔的深度，调节耦合量；待测介质基板与耦合环所在平面互相垂直。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 电子科技大学 一种基于准光腔的面外介电常数测试装置及方法
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