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申请/专利权人：齐鲁工业大学(山东省科学院)
摘要：本发明提出了一种基于太赫兹波的复折射率测量方法、系统、介质及设备，方法包括：获取衍射条件下太赫兹波的一般场强表达式；基于一般场强表达式构建太赫兹辐射的波动方程，根据波动方程和高斯光束特性得到包含光束参数的场振幅；将场振幅代入一般场强表达式，得到包含光束参数的场强表达式；测量场强数值和太赫兹波沿z轴传播的实时数值，基于测量数值和包含光束参数的场强表达式得到光束的光斑尺寸；根据光斑尺寸计算复折射率。本发明考虑衍射条件下太赫兹高斯光束分布的情况，在此基础上给出太赫兹辐射在强衍射条件下的分布模型，根据高斯光束特性求解吸收系数参数，从而提高材料复折射率测量的准确性。
主权项：1.一种基于太赫兹波的复折射率测量方法，其特征在于，包括：获取衍射条件下太赫兹波的一般场强表达式；基于一般场强表达式构建太赫兹辐射的波动方程，根据波动方程和高斯光束特性得到包含光束参数的场振幅；将场振幅代入一般场强表达式，得到包含光束参数的场强表达式；测量场强数值和太赫兹波沿z轴传播的实时数值，基于测量数值和包含光束参数的场强表达式得到光束的光斑尺寸；根据光斑尺寸计算复折射率。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 齐鲁工业大学(山东省科学院) 基于太赫兹波的复折射率测量方法、系统、介质及设备
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