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申请/专利权人：北京神州龙芯集成电路设计有限公司

摘要：本发明公开了一种基于嵌入式系统的内存DUMP故障诊断方法，涉及内存DUMP故障诊断领域，所述基于嵌入式系统的内存DUMP故障诊断的方法包括以下步骤：S1:准备步骤：首先选用一个PCB板，然后在PCB板上布置好嵌入式微处理器、动态随机存取存储器、RESET复位按键、启动模式选择开关、NANDFLASH存储器、SPIFLASH存储器和调试串口，本发明可以不依赖其他调试接口，更不需要调试器，对于长时间运行后意外死机的嵌入式系统，可通过DUMP出响应调试信息，进行故障诊断与分析，在研发新处理器平台的方案时，不必受困于调试设备的制约。

主权项：1.一种基于嵌入式系统的内存DUMP故障诊断方法，其特征在于，所述基于嵌入式系统的内存DUMP故障诊断的方法包括以下步骤：S1:准备步骤：首先选用一个PCB板，然后在PCB板上布置好嵌入式微处理器、动态随机存取存储器、RESET复位按键、启动模式选择开关、NANDFLASH存储器、SPIFLASH存储器和调试串口；S2:设备安装步骤：通过嵌入式微处理器内设有嵌入式微处理器芯片，嵌入式微处理器芯片的动态随机存取存储器DRAM控制器负责连接动态随机存取存储器芯片，将嵌入式微处理器芯片的复位引脚接到外部RESET复位按键上，将嵌入式微处理器芯片的启动模式引脚接到启动模式选择开关上，嵌入式微处理器芯片的NANDFLASH控制器负责连接NANDFLASH存储器芯片，嵌入式微处理器芯片的SPIFLASH控制器负责连接SPIFLASH存储器芯片，嵌入式微处理器芯片的串口控制器连接到调试串口上，串口控制器内设有连接串口控制台，调试串口连接串口控制台，SPIFLASH存储器集成了串口控制器；S3:设备启动步骤：启动模式选择开关安装在嵌入式微处理器上，启动模式选择开关，可选择嵌入式微处理器芯片从NANDFLASH存储器启动和SPIFLASH存储器启动的方式，NANDFLASH存储器用于启动存储器和一片SPIFLASH存储器用于启动存储器，变换启动模式、不同启动模式下合理进行初始化与内存地址访问，实现使用内存记录启动日志的效果，RESET复位按键用于触发嵌入式微处理器芯片带电复位；S4:故障诊断步骤：待嵌入式系统就绪后，先把启动模式选择开关拨到1的位置，嵌入式微处理器上电后从NANDFLASH存储器取指令并运行，此时运行的程序编译时需要从高地址空间预留部分内存作为调试区，预留内存大小根据需要调试的信息确定，然后在内存控制器初始化后将调试区内存全部清空为0，之后运行的各种程序可以将关键的调试与诊断信息有序的填入调试区内存地址进行记录，需要进入诊断模式，即进行故障检测与诊断时，在做好隔离或静电防护的情况下连接调试串口线，也可选择始终连接调试串口线，然后切换启动模式选择开关，把它拨到0的位置，按下RESET复位按键，嵌入式微处理器此时进行软复位且不要断电，复位后嵌入式微处理器将从SPIFLASH存储器取指令并运行，此时运行的程序采用应在编译链接时避开内存调试区地址，内存初始化代码保持与之前相同的配置，此时不可以清空、占用、刷新或改写之前调试区的内存地址空间，然后使用内存DUMP，最后将实际DUMP出的信息，对照相关手册或公式进行逐一对照，以此进行故障诊断的分析工作，得出结论；程序在调试串口上显示出第一次运行时向调试区内存地址填入的信息，如果需要再次复测，可将启动模式选择开关重新拨到1，然后再重复以上步骤进行诊断。

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