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申请/专利权人：西安电子工程研究所
摘要：本公开实施例是关于一种Ka波段相控阵天线子阵的测试装置及其使用方法。该装置包括：底板，底板上设有测试架和待测天线子阵固定机构，测试架上设有测试天线；盒体，底板设置在盒体的底部，且盒体能够将测试架和待测天线子阵固定机构罩住。本公开实施例通过与Ka波段波长对应尺寸的测试架设计，使得针对相控阵天线子阵的测试可以快速进行，避免测试过程中人为因素导致的测量偏差。该测试装置及其测试方法简单，易操作，低成本，能够有效得出Ka波段相控阵天线子阵的辐射特性。
主权项：1.一种Ka波段相控阵天线子阵的测试装置，其特征在于，该装置包括：底板，所述底板上设有测试架和待测天线子阵固定机构，所述测试架上设有测试天线；盒体，所述底板设置在所述盒体的底部，且所述盒体能够将所述测试架和所述待测天线子阵固定机构罩住。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安电子工程研究所 一种Ka波段相控阵天线子阵的测试装置及其使用方法
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