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基于多特征模式识别的电子负载用MOS管性能评测方法 

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申请/专利权人:湖南恩智测控技术有限公司

摘要:本申请提出基于多特征模式识别的电子负载用MOS管性能评测方法。该方法包括高频采集拉载电路采样电压和各MOS管漏极电压,对采样信号预处理后滑动切片形成样本集;从切片样本中提取4个特征:①滑动切片的原始样本数据,②进行频谱变换,将10个最高频谱值和对应频率组成“频率‑频谱值‑阈值”对,③建立上电、掉电曲线描述参数,形成曲线形态参数组合,④绘制循环双谱图形特征;建立Siamese小样本模型,预测电路单特征状态;以单特征状态作为基因片段,采用遗传算法挖掘MOS管性能分类评测模式。本申请提供了一种对电子负载用MOS管进行性能评测的方法,筛选不合格MOS管,保证电子负载拉载电路健康、稳定。

主权项:1.基于多特征模式识别的电子负载用MOS管性能评测方法,其特征在于,包括:高频采集拉载电流采样电压和各MOS管漏极电压,对采样时序信号预处理去噪后滑动切片形成切片样本集;从切片样本集中提取原始波形、频率域、上掉电波形形态和循环双谱图形4种特征;将提取的四种特征作为输入,采用小样本特征匹配算法,建立注意力机制Siamese单特征电路状态预测模型;以预测的电路单特征状态作为基因片段,以MOS管分类性能作为标签,采用遗传算法挖掘电子负载用MOS管性能分类评测模式;基于遗传算法挖掘的评测模式对直流负载电路MOS管进行性能分类评测。

全文数据:

权利要求:

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