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基于对称结构的自动侦测和高精度电容电阻抽取方法 

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申请/专利权人:青岛展诚科技有限公司

摘要:本发明提供了基于对称结构的自动侦测和高精度电容电阻抽取方法。涉及集成电路版图技术领域,其方法包括:根据预设版图图形识别技术确定集成电路版图中产生关键传输线的对称结构;进行分金属层局部采样并根据先进工艺建模的影响力以及贡献比进行迭代分析,确定集成电路版图的第一性能参数并进行第一优化;自动应用高精度电阻电容抽取模式,当寄生参数抽取精度不低于预设抽取精度时,抽取第一优化完成的集成电路版图的寄生参数;反馈至版图后仿真进行模拟测试,确定第一优化完成的集成电路版图的第二性能参数并结合所述第一性能参数对集成电路版图进行第二优化;既有效提高版图对称结构的寄生参数抽取精度,又有效反馈优化了集成电路版图。

主权项:1.基于对称结构的自动侦测和高精度电容电阻抽取方法,其特征在于,包括:步骤1:获取集成电路版图并根据预设版图图形识别技术确定集成电路版图中产生关键传输线的对称结构;步骤2:对所述集成电路版图中产生关键传输线的对称结构进行分金属层局部采样并根据先进工艺建模的影响力以及贡献比进行迭代分析,确定集成电路版图的第一性能参数并进行第一优化;步骤3:对第一优化完成的集成电路版图自动应用高精度电阻电容抽取模式,当寄生参数抽取精度不低于预设抽取精度时,抽取第一优化完成的集成电路版图的寄生参数;步骤4:将抽取结果反馈至版图后仿真进行模拟测试,确定第一优化完成的集成电路版图的第二性能参数并结合所述第一性能参数对集成电路版图进行第二优化。

全文数据:

权利要求:

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