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申请/专利权人：南京航空航天大学
摘要：本发明提供了一种利用正电子飞行时间实现的双层油膜厚度测量方法，包括：测出每对光子到达探测器的时间差，通过已知的探测晶体对距离和光速得到湮灭事件发生的位置；由于探测晶体的时间分辨率有限，计算得到的湮灭点不是一个点而是以一个区间且该区间符合高斯分布。根据每条响应线得到的湮灭点位置按区间分类并去除重合区间的响应线。为了排除活度随时间不断衰减对响应线数量的影响，在分类后将双层油膜的响应线数量分别与参考件湮灭点位置在同区间或与LOR中心对称区间的响应线数量进行比值，得到工业件内腔双层油膜的厚度。本发明实现了无侵入、无破坏地对密闭工业件内腔双层油膜厚度在位或者在线地测量，且操作灵活简单，具有可行性。
主权项：1.一种利用正电子飞行时间实现的双层油膜厚度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，将易于挥发的有机溶剂注入到被测件中来清洗残余润滑油和油污；步骤2，将正电子核素与润滑油充分混合、搅拌均匀，得到带有正电子核素的混合油溶液；步骤3，将混合油溶液注入到被测件与参考件中，其中被测件包括圆柱形缸体与柱塞，参考件为探测区域具有相同结构的金属组合且已知单层油膜厚度；步骤4，让被测件与参考件同时运作一段时间，使得被测件和参考件内壁均匀附着一层混合油溶液；步骤5，选取两对探测晶体对并进行均一化校正，将被测件和参考件分别放置在γ光子探测晶体对中间，并且探测晶体对连线与油膜面垂直；步骤6，两对探测晶体对同时分别对被测件与参考件进行采样，获得带有飞行时间的响应线数据；步骤7，对于探测被测件获取的响应线数据，根据飞行时间TOF得到γ光子到达探测晶体对的时间差的不同，以及双层油膜之间的距离对响应线数据进行分类，从而获得双层油膜中各层的响应线数据；步骤8，通过参考件单层油膜的响应线数量与双层油膜各层油膜响应线数量进行对比，计算得出工业件内腔双层油膜各自的厚度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 南京航空航天大学 一种利用正电子飞行时间实现的双层油膜厚度测量方法
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