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一种高轨SAR长合成孔径时间成像机理验证方法 

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申请/专利权人:西安空间无线电技术研究所

摘要:本发明属于雷达技术领域的图像识别技术,公开了一种高轨SAR长合成孔径时间成像机理验证方法:步骤1:计算卫星轨道位置成像所需合成孔径时间,选取时间间隔;步骤2:确定子孔径图像中目标相干性计算公式;步骤3:确定成像机理验证试验选取的合成孔径时间,通过车载试验模拟高轨SAR采集合成孔径时间内回波数据并进行参考信号补偿;步骤4:根据时间间隔,对补偿后的车载试验回波数据划分子孔径并进行子孔径成像处理;步骤5:计算子孔径图像中目标的相干性;如果目标的相干性低于阈值,则为失相干,否则为相干性好。本发明针对高轨SAR运行、空间环境及系统特殊性提出,是高轨SAR成像机理验证的有效手段。

主权项:1.一种高轨SAR长合成孔径时间成像机理验证方法,其特征在于,具体包括如下步骤:步骤1:根据高轨SAR轨道参数确定卫星的轨道位置,计算该轨道位置成像所需的合成孔径时间;在合成孔径时间内选取需要分析的时间间隔;步骤2:确定子孔径图像中目标的相干性的计算公式;步骤3:确定成像机理验证试验所选取的合成孔径时间,通过车载试验模拟高轨SAR采集合成孔径时间内回波数据,并对回波数据进行参考信号补偿;步骤4:根据步骤1选取的时间间隔,对步骤3得到的补偿后的车载试验回波数据划分子孔径并进行子孔径成像处理,得到多个子孔径图像;步骤5:采用步骤2确定的子孔径图像中目标的相干性的计算公式,对步骤4得到的子孔径图像中目标的相干性进行计算;如果计算得到的目标的相干性低于设定阈值,则确定为失相干,否则,确定为相干性好。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安空间无线电技术研究所 一种高轨SAR长合成孔径时间成像机理验证方法

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