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申请/专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司

摘要：本发明公开了一种基于微束X射线荧光的铝合金组织显微偏析定量表征方法，首先选择管电压、管电流、扫描时间的最优组合，实现测试结果的最优化；采用含量校正法实现合金元素准确定量；利用优化后参数采集全局任意位置含量数据，将计算机程序数据处理与原位统计分布分析技术相结合，对获取的面分布、线分布、频度分布、偏析度、统计偏析度、偏析比等成分数据进行详细解析；探索成分数据与组织形貌之间的分布规律，根据EBSD及图像分割结果建立再结晶显微偏析关联模型；应用建立的模型，对比评价材料显微偏析程度。本发明极大地消除了单一视场或数据统计的误差，实现同类材料或不同类材料显微偏析程度表征，实现材料中异常组织的快速筛查。

主权项：1.一种基于微束X射线荧光的铝合金组织显微偏析定量表征方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，选取铝合金光谱标准样品，铝合金光谱标准样品的各元素的实际含量已知，对铝合金光谱标准样品进行抛光处理，获取平整试样表面；S2，在微束X射线荧光分析仪中设置适合铝合金的管电压、管电流、扫描时间构成的最优组合测试参数；S3，采用含量校正法优化微束X射线荧光分析仪定量结果，实现铝合金元素准确定量，具体包括：将步骤S1中的铝合金光谱标准样品按设定比例划分为训练样本和验证样本，将训练样本在步骤S2设置的最优组合测试参数下进行各元素含量的分析采集，得到测试含量，建立测试含量与实际含量的线性关系图，根据线性关系图确定各元素的校准系数，并通过验证样本对校准系数进行校验；S4，采用步骤S2设置的最优组合测试参数，对待测样本进行各元素含量的分析采集，并采用步骤S3确定的各元素的校准系数调整定量结果；S5，采用计算机程序与原位统计分布分析技术对步骤S4获取的数据进行详细解析，对矩阵数据进行面分布、线分布、频度分布表征，对统计数据进行偏析度、统计偏析度、偏析比解析；S6，将步骤S5获取的结果结合组织形貌进行分布规律探索，通过线分布趋势图确认各元素分布情况，得到成分数据集，通过长时间单点采集确定不同类别组织含量，得到组织结构数据集；S7，挖掘所述成分数据集及组织结构数据集之间的统计映射关系，拟合元素分布与组织灰度之间的关系，进一步验证成分-组织之间相关性；S8，在步骤S6和S7的基础上建立数据分布关联模型，将成分数据筛查结果与组织分割结果对比，在两者差异最小的情况下确定待测样本的组织含量及待测尺寸分割阈值；S9，将步骤S8确定的待测样本的组织含量及待测尺寸分割阈值应用于全局样品，对比评价沿截面厚度方向不同位置再结晶偏析程度，或对比不同加工工艺、不同种类材料显微偏析程度。

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