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申请/专利权人:上海江波龙数字技术有限公司
摘要:本申请公开了一种存储设备的异常掉电测试方法及相关装置。所述存储设备的异常掉电测试方法包括:获取存储设备的异步掉电的模拟掉电指令;根据所述模拟掉电指令,所述存储设备的固件通过模拟掉电方式执行异步掉电流程;记录所述异步掉电流程是否完成,并统计所述异步掉电流程中各步骤的执行时间,生成模拟掉电状态信息;根据所述模拟掉电状态信息判断所述模拟掉电指令是否运行成功。上述方案,能够提升存储设备的异常掉电测试效率。
主权项:1.一种存储设备的异常掉电测试方法,其特征在于,所述方法包括:获取存储设备的异步掉电的模拟掉电指令;根据所述模拟掉电指令,所述存储设备的固件通过模拟掉电方式执行异步掉电流程;记录所述异步掉电流程是否完成,并统计所述异步掉电流程中各步骤的执行时间,生成模拟掉电状态信息;根据所述模拟掉电状态信息判断所述模拟掉电指令是否运行成功。
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百度查询: 上海江波龙数字技术有限公司 存储设备的异常掉电测试方法及相关装置
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