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申请/专利权人：美国亚德诺半导体公司
摘要：本发明涉及使用三维飞行时间成像的Z平面识别和箱尺寸确定。提供了一种获得并处理飞行时间数据TOF的传感器系统。TOF传感器获得描述各种表面的原始数据。处理器将平均滤波器应用于原始数据以平滑原始数据以增加原始数据中表示的平坦表面的信噪比SNR，对滤波后的原始数据执行深度计算过程以生成距离数据，基于距离数据生成点云，并识别点云中的Z平面。
主权项：1.一种用于识别Z平面的方法，包括：从飞行时间TOF传感器获得指示所述TOF传感器与多个表面之间的距离的原始数据；将平均滤波器应用于原始数据以平滑所述原始数据，以增加所述多个表面的表面的信噪比SNR；对滤波后的原始数据执行深度计算过程，以生成距离数据；基于所述距离数据生成点云，所述点云在所述传感器的参考帧中；识别表示跨越所述点云的峰值方向的基矢量；和在所述点云中，识别表示所述多个表面中的至少一个表面的至少一个Z平面，其中所述至少一个Z平面与所述基矢量基本正交。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 美国亚德诺半导体公司 使用三维飞行时间成像的Z平面识别和箱尺寸确定
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