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申请/专利权人：中国人民解放军国防科技大学
摘要：本发明公开了一种双电光晶体调制自混合测振系统及方法，该系统包括激光器、第一分光镜、第一电光晶体、第二电光晶体与光电探测器；第一分光镜将激光器的激光分束为测量光与参考光；第一电光晶体、被测目标表面位于测量光的光路上，将测量光的频率调制至的各阶谐波上后打在被测目标表面，并原路返回激光谐振腔；第二电光晶体、静止参考表面位于参考光的光路上，将参考光的频率调制至的各阶谐波上后打在静止参考表面，并原路返回激光谐振腔与测量光发生自混合效应；光电探测器用于获取激光器输出激光的功率波动情况。本发明应用于光学测量领域，能够有效降低装置对激光相位噪声的敏感性，提高装置的精度与灵敏度。
主权项：1.一种双电光晶体调制自混合测振系统，其特征在于，包括激光器、第一分光镜、第一电光晶体、第二电光晶体与光电探测器；所述第一分光镜位于所述激光器的输出光路上，以用于将所述激光器输出的激光分束为测量光与参考光；所述第一电光晶体、被测目标表面依次间隔位于所述测量光的光路上，以将所述测量光的频率调制至的各阶谐波上后打在所述被测目标表面，并原路返回所述激光器的激光谐振腔；所述第二电光晶体、静止参考表面依次间隔位于所述参考光的光路上，以将所述参考光的频率调制至的各阶谐波上后打在所述静止参考表面，并原路返回所述激光器的激光谐振腔与所述测量光发生自混合效应，其中，；所述光电探测器用于获取所述激光器输出激光的功率波动情况，以测得被测目标的振动信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国人民解放军国防科技大学 双电光晶体调制自混合测振系统及方法
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