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申请/专利权人：星钥(珠海)半导体有限公司
摘要：本实用新型涉及硅基二极管技术领域，公开了一种检测平台包括输送组件、夹持组件、连通组件及检测组件；夹持组件包括固定座、活动座及动力件；动力件驱动活动座向靠近固定座方向移动，以使得活动座与固定座夹持固定待测件；连通组件包括升降件及探针；检测组件用于检测待测件发光的波长与强度；其中，探针与活动座均为导电件，探针抵压在待测件的第一通电位，活动座抵压在待测件的第二通电位。通过升降件自动化驱动探针与第一通电位接触，将活动座与第二通电位接触，实现在测试过程中，检测人员只需要单手持外界直流电电极，控制电极与活动座接触，即可实现对巴条的电致发光测试，整体操作简单方便，提高检测效率。
主权项：1.一种检测平台，用于对待测件通电测试，所述待测件的上表面设有第一通电位，所述待测件的侧面设有第二通电位，其特征在于，所述检测平台包括：输送组件，所述输送组件用于输送待测件沿第一方向移动；夹持组件，与所述输送组件连接；所述夹持组件包括固定座、活动座及动力件；所述固定座与所述活动座沿第二方向相对设置在所述输送组件的两侧，所述活动座与所述固定座活动连接，所述动力件驱动所述活动座沿第二方向上向靠近所述固定座方向移动，以使得所述活动座与所述固定座夹持固定待测件；连通组件，所述连通组件包括升降件及探针；所述升降件与所述固定座连接，所述探针与所述升降件连接，所述升降件用于驱动所述探针沿第三方向移动；及检测组件，检测组件设置在所述输送组件沿第三方向上靠近所述探针的一侧，所述检测组件用于检测待测件发光的波长与强度；其中，所述第一方向、第二方向及第三方向两两相交；所述探针与所述活动座均为导电件，所述探针抵压在待测件的第一通电位，所述活动座抵压在待测件的第二通电位。
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百度查询： 星钥(珠海)半导体有限公司 检测平台
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