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申请/专利权人：南方电网科学研究院有限责任公司;广东电网有限责任公司电力科学研究院
摘要：本发明提供了一种基于银烧结层微观缺陷形态老化模拟的压接型IGBT模块寿命预测方法和相关装置，包括获取有限元精细化模型进行功率循环试验的结温和壳温并计算热阻；采用线性叠加的方式计算模型中每个网格的累积损伤度；记录有限元精细化模型中累积损伤度达到临界值的网格为失效网格；基于失效网格删除有限元精细化模型的网格实体；删除网格实体后重新进行功率循环试验，直至热阻增加到设定值后，将此时的功率循环次数作为该模块的寿命。本发明通过建立基于银烧结层微观缺陷形态的有限元精细化模型，能够更准确地模拟IGBT模块在实际工作条件下的热行为。这种精细化模型考虑了银烧结层的具体特性，提高了预测IGBT模块寿命的精确度。
主权项：1.基于银烧结层微观缺陷形态老化模拟的压接型IGBT模块寿命预测方法，其特征在于，包括如下步骤：获取有限元精细化模型进行功率循环试验的结温、壳温，并基于所述结温和壳温计算热阻，所述有限元精细化模型为预先建立的关于银烧结层压接IGBT模块的有限元模型；依据Miner理论，采用线性叠加的方式对所述有限元精细化模型的疲劳过程进行累积，计算模型中每个网格的累积损伤度；不断进行功率循环，记录所述有限元精细化模型中累积损伤度达到临界值的网格为失效网格；基于所述失效网格删除所述有限元精细化模型的网格实体；删除所述网格实体后重新进行功率循环试验，直至所述热阻增加到设定值后，记录此时功率循环次数，并将此时的所述功率循环次数作为银烧结层压接IGBT模块的寿命。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 南方电网科学研究院有限责任公司 广东电网有限责任公司电力科学研究院 基于银烧结层微观缺陷形态老化模拟的压接型IGBT模块寿命预测方法和相关装置
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