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申请/专利权人：华南师范大学

摘要：本发明涉及一种基于偏振态层析的光学成像系统，其包括偏振光发生装置、偏振态相干调制装置和偏振态测量装置，其中，偏振态相干调制装置包括偏振分束器、参考臂和样品臂；偏振光发生装置生成入射线偏振光，入射线偏振光在偏振分束器分光形成偏振方向相互垂直的入射参考光和入射样品光；入射参考光进入参考臂发生反射形成反射参考光，入射样品光进入样品臂发生反射形成反射样品光，反射参考光和反射样品光的偏振方向相互垂直；反射参考光和反射样品光在偏振分束器汇聚并相干合成，形成合成光；偏振态测量装置测量合成光的偏振信息，获得偏振光强图像。本发明所述的基于偏振态层析的光学成像系统具有准确性高、可实时测量的优点。

主权项：1.一种基于偏振态层析的光学成像系统，其特征在于：包括偏振光发生装置、偏振态相干调制装置和偏振态测量装置，其中，所述偏振态相干调制装置包括偏振分束器、参考臂和样品臂；所述偏振光发生装置生成入射线偏振光，所述入射线偏振光在所述偏振分束器分光形成偏振方向相互垂直的入射参考光和入射样品光；所述入射参考光进入所述参考臂发生反射形成反射参考光，所述入射样品光进入所述样品臂发生反射形成反射样品光，所述反射参考光和所述反射样品光的偏振方向相互垂直；所述反射参考光和所述反射样品光在所述偏振分束器汇聚并相干合成，形成合成光；所述偏振态测量装置测量所述合成光的偏振信息，获得偏振光强图像；所述参考臂包括依次设置于所述入射参考光光轴上的第一14波片和平面镜；所述入射参考光经过所述第一14波片后，在所述平面镜处发生反射获得所述反射参考光，所述反射参考光经过所述第一14波片回到所述偏振分束器；所述样品臂包括依次设置于所述入射样品光光轴上的第二14波片和样品台；所述入射样品光经过所述第二14波片后，在所述样品台上的样品处反射获得所述反射样品光，所述反射样品光经过所述第二14波片回到所述偏振分束器；其中，所述第一14波片的快轴具有第一方位角，所述第二14波片的快轴具有第二方位角，通过所述第一方位角和所述第二方位角的相互配合，确保所述反射参考光和所述反射样品光的偏振方向相互垂直；所述偏振态测量装置包括第一偏振相机，所述第一偏振相机测量所述合成光的线偏振分量，获得线偏振光强图；所述偏振态测量装置还包括分束器、第三14波片和第二偏振相机；所述合成光在所述分束器分束形成偏振方向相同的第一合成光和第二合成光；所述第一偏振相机测量所述第一合成光的线偏振分量，获得线偏振光强图；所述第二合成光经所述第三14波片进入所述第二偏振相机，所述第二偏振相机测量所述第二合成光的圆偏振分量，获得圆偏振光强图。

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