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一种集成电路测试平台 

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申请/专利权人:珠海市运泰利自动化设备有限公司

摘要:本实用新型旨在提供一种结构紧凑使用方便,能兼容不同尺寸产品完成测试的集成电路测试平台。本实用新型包括底壳、上盖、两组压紧组件、两组针块组件以及两组测试机,所述上盖与所述底壳固定连接,两组所述测试机设于所述底壳上,两组所述压紧组件均与所述上盖的上表面相连接,两组所述针块组件固定连接与所述上盖的下表面,两组所述针块组件对应与两组所述测试机电性连接,两组所述压紧组件将产品载板扣紧,所述针块组件与产品载板导通连接。本实用新型应用于探针测试平台的技术领域。

主权项:1.一种集成电路测试平台,它包括底壳(1)和上盖(2),所述上盖(2)与所述底壳(1)固定连接,其特征在于:所述集成电路测试平台还包括两组压紧组件(3)、两组针块组件(4)以及两组测试机(5),两组所述测试机(5)设于所述底壳(1)上,两组所述压紧组件(3)均与所述上盖(2)的上表面相连接,两组所述针块组件(4)固定连接于所述上盖(2)的下表面,两组所述针块组件(4)对应与两组所述测试机(5)电性连接,两组所述压紧组件(3)将产品载板扣紧,所述针块组件(4)与产品载板导通连接。

全文数据:

权利要求:

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