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申请/专利权人：厦门星科电子有限公司
摘要：本实用新型涉及IMD鼓膜按键技术领域，尤其涉及一种用于IMD多个鼓膜按键寿命同步测试设备。本实用新型提供一种能够对IMD鼓膜按键的按压测试工具进行快速装卸，避免长时间的磨损导致同步测试精度下降而影响测试数据的用于IMD多个鼓膜按键寿命同步测试设备。一种用于IMD多个鼓膜按键寿命同步测试设备，包括有底架、支架和安装座等，底架顶部连接有支架，支架后部上侧连接有安装座。本实用新型通过夹板上部相互靠近压缩第二弹簧时，夹板下部会相互远离，夹板下部相互远离会松开触头，使得触头能够从按压块上卸下的操作，能够达到对IMD鼓膜按键的按压测试工具进行快速装卸，避免长时间的磨损导致同步测试精度下降而影响测试数据的效果。
主权项：1.一种用于IMD多个鼓膜按键寿命同步测试设备，其特征在于，包括有底架1、支架2、安装座3、电机4、凸轮5、下压架6、第一弹簧7、按压块8和卡位机构9，底架1顶部连接有支架2，支架2后部上侧连接有安装座3，安装座3顶部连接有电机4，电机4输出轴上连接有凸轮5，支架2中部滑动式连接有下压架6，下压架6上部与支架2之间连接有第一弹簧7，下压架6底部卡接有按压块8，按压块8上设有卡位机构9。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 厦门星科电子有限公司 一种用于IMD多个鼓膜按键寿命同步测试设备
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