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申请/专利权人：西安电子科技大学
摘要：本发明公开了一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法，首先使用均匀圆阵完成对辐射源信号的数据采集，通过频域鉴相方式，对两阵元接收信号做傅里叶变换，再求其相关谱Yω的谱峰位置，获取该处的相位值即为模糊基线相位差；然后遍历全部的模糊数，利用相似度计算的方式，实现圆阵解模糊，去除鉴相过程产生的整周模糊影响，得到各个基线的无模糊相位差，最后设定0阵元为中心阵元的基线组为基本组，遍历圆阵各个阵元，分别得到不同基线组的定位结果，再基于相位差变化率对各组结果进行加权，得到最终的辐射源空间位置；本发明算法对检测阵型进行改进，使用均匀圆阵完成整体检测，提升了算法的全向检测能力。
主权项：1.一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法，其特征在于，所述方法具体按以下步骤实施：步骤1，相位解模糊；使用均匀圆阵完成对辐射源信号的数据采集，通过阵元接收信号获取其相关谱的谱峰位置，通过谱峰位置的相位值确定基线相位差，根据均匀圆阵阵元数量计算各基线长度，判断基线长度与辐射源频率的关系，确定相位模糊的存在，然后得出存在的模糊数范围，然后遍历模糊数，得到各基线的无模糊相位差；步骤2，基于交叉基线的相位差变化率定位；根据天线阵元进行划分，遍历均匀圆阵，依次将圆阵阵元设定为中心阵元，并分别结合其邻近的两个阵元组成天线组，使得中心阵元与相邻阵元组成的两条短基线构成为一组基线对，确定各个基线组对应的无模糊基线相位差以及相位差变化率；依据相位差及相位差变化率数据分别对各个测试组的数据进行求解，获得若干组定位结果；步骤3，最后对步骤2得到的若干组定位结果加权处理。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安电子科技大学 一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法
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